广州海珠刻蚀公司 广东省科学院半导体研究所供应

干法刻蚀（DryEtching）是使用气体刻蚀介质。常用的干法刻蚀方法包括物理刻蚀（如离子束刻蚀）和化学气相刻蚀（如等离子体刻蚀）等。与干法蚀刻相比，湿法刻蚀使用液体刻蚀介质，通常是一种具有化学反应性的溶液或酸碱混合液。这些溶液可以与待刻蚀材料发生化学反应，从而实现刻蚀。硅湿法刻蚀是一种相对简单且成本较低的方法，通常在室温下使用液体刻蚀介质进行。然而，与干法刻蚀相比，它的刻蚀速度较慢，并且还需要处理废液。每个目标物质都需要选择不同的化学溶液进行刻蚀，因为它们具有不同的固有性质。例如，在刻蚀SiO2时，主要使用HF；而在刻蚀Si时，主要使用HNO3。因此，在该过程中选择适合的化学溶液至关重要，以确保目标物质能够充分反应并被成功去除。离子束刻蚀为光学系统提供亚纳米级精度的非接触式制造方案。广州海珠刻蚀公司

深硅刻蚀设备在先进封装中的主要应用之二是SiP技术，该技术是指在一个硅片上集成不同类型或不同功能的芯片或器件，从而实现一个多功能或多模式的系统。SiP技术可以提高系统性能、降低系统成本、缩小系统尺寸和重量。深硅刻蚀设备在SiP技术中主要用于实现不同形状或不同角度的槽道或凹槽刻蚀，以及后续的器件嵌入和连接等工艺。深硅刻蚀设备在SiP技术中的优势是可以实现高灵活性、高精度和高效率的刻蚀，以及多种气体选择和功能模块集成。广州海珠反应性离子刻蚀等离子体表面处理技术是一种利用高能等离子体对物体表面进行改性的技术。

干法刻蚀设备根据不同的等离子体激发方式和刻蚀机理，可以分为以下几种工艺类型：一是反应离子刻蚀（RIE），该类型是指利用射频（RF）电源产生平行于电极平面的电场，从而激发出具有较高能量和方向性的离子束，并与自由基共同作用于样品表面进行刻蚀。RIE类型具有较高的方向性和选择性，但由于离子束对样品表面造成较大的物理损伤和加热效应，导致刻蚀速率较低、均匀性较差、荷载效应较大等缺点；二是感应耦合等离子体刻蚀（ICP），该类型是指利用射频（RF）电源产生垂直于电极平面的电场，并通过感应线圈或天线将电场耦合到反应室内部，从而激发出具有较高密度和均匀性的等离子体，并通过另一个射频（RF）电源控制样品表面的偏置电压，从而调节离子束的能量和方向性，并与自由基共同作用于样品表面进行刻蚀。

硅的酸性蚀刻液：Si与HNO3、HF的混合溶液发生反应，硅的碱性刻蚀液：氢氧化钾、氢氧化氨或四甲基羟胺（TMAH）溶液，晶片加工中，会用到强碱作表面腐蚀或减薄，器件生产中，则倾向于弱碱，如SC1清洗晶片或多晶硅表面颗粒，一部分机理是SC1中的NH4OH刻蚀硅，硅的均匀剥离，同时带走表面颗粒。随着器件尺寸缩减会引入很多新材料（如高介电常数和金属栅极），那么在后栅极制程，多晶硅的去除常用氢氧化氨或四甲基羟胺（TMAH）溶液，制程关键是控制溶液的温度和浓度，以调整刻蚀对多晶硅和其他材料的选择比。放电参数包括放电功率、放电频率、放电压力、放电时间等，它们直接影响着等离子体的密度、能量、温度。

深硅刻蚀设备的缺点是指深硅刻蚀设备相比于其他类型的硅刻蚀设备或其他类型的微纳加工设备所存在的不足或问题，它可以展示深硅刻蚀设备的技术难点和改进空间。以下是一些深硅刻蚀设备的缺点：一是扇形效应，即由于Bosch工艺中交替进行刻蚀和沉积步骤而导致特征壁上出现周期性变化的扇形结构，影响特征壁的平滑度和均匀性；二是荷载效应，即由于不同位置或不同时间等离子体密度不同而导致不同位置或不同时间去除速率不同，影响特征形状和尺寸的一致性和稳定性；三是表面粗糙度，即由于物理碰撞或化学反应而导致特征表面出现不平整或不规则的结构，影响特征表面的光滑度和清洁度；四是环境影响，即由于使用含氟或含氯等有害气体而导致反应室内外产生有毒或有害的物质，影响深硅刻蚀设备的环境安全和健康；五是成本压力，即由于深硅刻蚀设备的复杂结构、高级技术和大量消耗而导致深硅刻蚀设备的制造成本和运行成本较高，影响深硅刻蚀设备的经济效益和竞争力。离子束溅射刻蚀是氩原子被离子化，并将晶圆表面轰击掉一小部分。广州海珠ICP刻蚀

刻蚀温度越高，固体与气体之间的反应速率越快，刻蚀速率越快；但也可能造成固体的热变形、热应力、热扩散。广州海珠刻蚀公司

深硅刻蚀设备在微机电系统（MEMS）领域也有着重要的应用，主要用于制造传感器、执行器、微流体器件、光学开关等。其中，传感器是指用于检测物理量或化学量并将其转换为电信号的器件，如加速度传感器、压力传感器、温度传感器、湿度传感器等。深硅刻蚀设备在这些传感器中主要用于形成悬臂梁、桥式结构、薄膜结构等。执行器是指用于接收电信号并将其转换为物理运动或化学反应的器件，如微镜片、微喷嘴、微泵等。深硅刻蚀设备在这些执行器中主要用于形成可动部件、驱动机构、密封结构等。广州海珠刻蚀公司