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2025-08

星期 五

广州金属刻蚀材料刻蚀公司 广东省科学院半导体研究所供应

电容耦合等离子体刻蚀(CCP)是通过匹配器和隔直电容把射频电压加到两块平行平板电极上进行放电而生成的,两个电极和等离子体构成一个等效电容器。这种放电是靠欧姆加热和鞘层加热机制来维持的。由于射频电压的引入,将在两电极附近形成一个电容

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硅(Si)作为半导体产业的基石,其材料刻蚀技术对于集成电路的制造至关重要。随着集成电路的不断发展,对硅材料刻蚀技术的要求也越来越高。从早期的湿法刻蚀到现在的干法刻蚀(如ICP刻蚀),硅材料刻蚀技术经历了巨大的变革。ICP刻蚀技术以

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各向异性:各向异性是指硅片上被刻蚀的结构在垂直方向和水平方向上的刻蚀速率比,它反映了深硅刻蚀设备的刻蚀剖面和形状。各向异性受到反应室内的偏置电压、保护膜沉积等参数的影响,一般在10-100之间。各向异性越高,表示深硅刻蚀设备对硅片

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随着光刻对准技术的发展,一开始只是作为评价及测试光栅质量的莫尔条纹技术在光刻对准中的应用也得到了更深层的开发。起初,其只能实现较低精度的人工对准,但随着细光栅衍射理论的发展,利用莫尔条纹相关特性渐渐也可以在诸如纳米压印光刻对准等高

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视频图像处理对准技术,是指在光刻套刻的过程中,掩模图样与硅片基板之间基本上只存在相对旋转和平移,充分利用这一有利条件,结合机器视觉映射技术,利用相机采集掩模图样与硅片基板的对位标记信号。此种方法看上去虽然与双目显微镜对准有些类似,

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